【課題】培地に気泡が混入することを防止することができる細胞培養システム及びそれを用いた細胞培養方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る細胞培養システム１は、細胞が収容される培養室３００と、外部への開口を有する液状の培地を貯留する培地貯留部１１１と、前記培養室３００と前記培地貯留部１１１とを繋ぐ培地導入流路１１２と、前記培養室３００に連通した培地排出流路１２２とを有する細胞培養デバイス１０と、前記培地排出流路１２２に接続され、前記培養室３００内を吸引することにより前記培地貯留部１１１内の培地を前記培養室３００に送液する送液機構２０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 イオントラップToF装置の、特にMS²及びMS³分析モードにおいて、イオンスループット速度及びスペクトル取得速度を改良する。
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置（１）が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス（１０）と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス（１０）の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。 （もっと読む）

【課題】或るMS¹ピークをプリカーサイオンとしたMS²分析を実行する前にそのMS²分析結果を利用した物質同定の確率を定量的に推定することにより、同定作業の効率向上を図る。
【解決手段】同定確率推定モデル構築部３２は、既知試料から得られた多数の分画試料をMS¹、MS²分析し、同定を行った結果（成功／失敗）から、同定成功の確率が高いMS¹ピークのm/z及びSN比を把握し、MS¹ピークを順位付けするパラメータと、その順位に従ってMS²分析及び同定を行った場合の分析累積数と同定成功数との関係を示す同定確率推定モデルを表すパラメータを求め、記憶部３３に記憶しておく。目的試料中の物質同定に際しては、分析により得られたMS1ピークについてMS¹ピーク順位付けパラメータを用いて近似順位を求め、同定確率推定モデルを参照して近似順位から同定確率推定値を求める。例えば同定確率がを基にMS¹ピークを選択しMS²分析することで効率良く網羅的同定が可能である。 （もっと読む）

【課題】装置を大型化させることなく、温度変化による流量弁とアクチュエータとの間の相対位置変化を効果的に吸収できるようにする。
【解決手段】ベースと、ベースに固定された流量弁と、アクチュエータと、ベース及びアクチュエータが熱変位部材を介して連結されている流量調整弁である。そして、熱変位部材とベース又はアクチュエータとの間に、熱変位部材の変位を、温度変化よって生ずる流量弁とアクチュエータとの相対位置の変化を相殺する方向に伝達する梃子手段を更に備えている。 （もっと読む）

【課題】１つの装置で、分析目的に応じた高感度の測定と測定質量範囲の広い測定とを自由に選択可能とする。
【解決手段】四重極電源部４において、高周波電源４０１による高周波電圧の周波数を切り替え可能とするとともに、四重極マスフィルタ２の浮遊容量に並列に可変コンデンサ４０２、４０３を設ける。感度優先の高感度モードでは質量範囲の広さを優先する高質量モードよりも、高周波電圧の周波数を高くするとともに、可変コンデンサ４０２、４０３の容量値を大きくする。ＬＣ共振回路を形成する容量値が大きくなることでＬＣ共振条件に基づく周波数が上がり、高い周波数の高周波電圧をＬＣ共振させて振幅を増幅することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 エジェクタや吸引パイプやエアロゾル移送パイプ等の吸入管を取り外すことなく、容易に洗浄できる粒度分布測定装置の洗浄方法及びその洗浄方法が用いられる粒度分布測定装置を提供する。
【解決手段】 被測定物Ｓが収容されるサンプル供給装置３０と、光強度分布取得部４１と、光強度分布取得部４１で取得された光強度分布を用いて、被測定物Ｓに含まれる被測定粒子群の粒度分布を算出する粒度分布算出部４３とを備え、測定空間の一端部は、吸入管２４ａ、２４ｂ、２４ｆを介してサンプル供給装置３０と連結されるとともに、測定空間の他端部は、排出管９１と連結されている粒度分布測定装置１の洗浄方法であって、サンプル供給装置３０に洗浄用粒子群を含む被測定物Ｓを収容する収容工程と、洗浄用粒子群を含む被測定物Ｓを、吸入管２４ａ、２４ｂ、２４ｆと測定空間と排出管９１とを通過させる通過工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】ＴＦＴアレイ検査装置において、基板内で絶縁破壊（ＥＳＤ）を生じさせることなく、基板に帯電した電荷を放電する。
【解決手段】プローバーを基板に配置し、プローバーを介して検査信号を基板に供給し、基板上に形成されたＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴアレイ検査時にプローバーを基板に配置した際に、基板をプローバーを介して接地された高抵抗の放電用抵抗に接続することによって、基板に帯電する電荷をプローバーおよび放電用抵抗を介して放電させる。基板に帯電する電荷を、基板からプローバーを介して放電用抵抗に導くことによって、ＴＦＴアレイ検査装置内において格別な機構を設けることなく基板に帯電する電荷を放電することができる。 （もっと読む）

【課題】電気的検査と光学像による観察とを行うＴＦＴ液晶基板検査において、装置構成を小型化し、基板アレイ検査のスループットを向上させる。
【解決手段】ＴＦＴ液晶基板検査装置は、検査チャンバーから電気的検査によって欠陥位置を取得したＴＦＴ液晶基板を、検査チャンバーから基板交換チャンバーに搬出する際に、ＴＦＴ液晶基板上の欠陥位置に撮像装置を移動させて光学像を取得する構成とすることによって、光学像を取得的するために要するスペースを不要として装置構成を小型化すると共に、ＴＦＴ液晶基板の搬出と同時に光学像を取得することによって、光学像のみを取得するための時間を不要としてＴＦＴ液晶基板検査のスループットを向上させる。 （もっと読む）

【課題】撮像装置とキャリブレーションマークとの位置関係に係わらず、撮像装置をキャリブレーションするに十分な、キャリブレーションマークの撮像画像を取得する。
【解決手段】単一のキャリブレーションマークを複数回撮像することによって、複数の基準マークが配置されたキャリブレーションを撮像したときと同様の画像マークを取得し、この画像マークに基づいて撮像装置について中心位置、取り付け角度、分解能等のキャリブレーションを行う。単一のキャリブレーションマークを異なる撮像位置で複数回撮像して画像マークを取得する撮像工程と、複数回の撮像で取得したキャリブレーションマークの各画像マークを用いて、複数個の画像マークを有した撮像画像を形成する撮像画像形成工程と、撮像画像の画像マークの位置と撮像画像上の基準位置とに基づいて、撮像装置のキャリブレーション情報を算出するキャリブレーション情報算出工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】生産性の高い検査装置、及び搬送装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる検査装置は、前段搬送ベルト２１と後段搬送ベルト２３との間において、基板１０を支持して、照明する照明ステージ２２と、基板１０を持ち上げる移載部３１を有し、前段搬送ベルト２１から照明ステージ２２に受け渡すともに、照明ステージ２２から後段搬送ベルト２３に基板１０を受け渡すための動作を行うクランク機構３２と、移載部３１に設けられ、移載部３１で持ち上げられた基板１０に向けて下側から照明光を照射する照明部３１ａと、一の基板１０が照明ステージ２２を介して前段搬送ベルト２１から後段搬送ベルト２３に移載されるまでの間に、照明ステージ２２及び照明部３１ａで照明された一の基板１０を撮像する撮像部３５と、を備えるものである。 （もっと読む）